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半導體曝光設備的應用

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半導體曝光設備的應用

半導體光刻設備用于包括MOS(金屬氧化物半導體)和FET(場效應晶體管)等半導體元件的IC(集成電路)制造過程中的曝光工序。

在IC制造過程中,在硅晶片上依次重復光刻和蝕刻的循環(huán),并在以預定圖案堆疊和加工氧化硅、金屬等層的過程中,獲得半導體元件所需的特性. 將被處理為作為示例,在n型MOS(NMOS)的情況下,在p型硅襯底上的柵極區(qū)域中形成氧化硅膜,并在其上形成柵極金屬,并向其中注入高濃度雜質離子。漏極區(qū)和源極區(qū),形成n型(n+型)MOS。這一系列工序中的光刻和蝕刻的各工序如圖所示地構成(成膜工序S1~抗蝕劑剝離工序S6)。

半導體曝光設備

其中,曝光工序(S3)是使用半導體曝光裝置進行的工序。根據(jù)電路圖案的尺寸和半導體元件的精度,曝光設備使用不同的波長。