克爾環(huán)/磁域同時評估裝置
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克爾環(huán)/磁域同時評估裝置
概述/規(guī)格
| 測量方向 | 面內/垂直方向 |
|---|---|
| 使用的光源 | 半導體激光/白光光源 *激光波長可協(xié)商 |
| 空間分辨率 | <Φ2μm *使用50倍物鏡時 |
| 最大施加磁場 | 10kOe (1T) *其他外加磁場如20kOe可協(xié)商。 |
特點/應用
可以利用克爾效應同時獲取磁滯回線和磁域圖像的混合設備
切換機制允許測量面內磁化材料和垂直磁化材料。
物鏡放大倍數(shù)、激光光源波長和施加的磁場是可以協(xié)商的。
*我們接受測試測量/觀察。